Tema de trabajo aprobado
ISO/AWI 17470
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Reference number
ISO/AWI 17470
Edition 3
© ISO 2025
Tema de trabajo aprobado
En desarrollo
Un grupo de trabajo ha preparado un borrador.
Reemplazará ISO 17470:2014

Resumen

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Informaciones generales

  • Estado
     : En desarrollo
    Etapa
    : Nuevo proyecto registrado en el programa de trabajo TC/SC [20.00]
  • Edición
     : 3
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 2
  • RSS actualizaciones

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