Утвержденный рабочий проект
ISO/AWI 17470
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Ссылочный номер
ISO/AWI 17470
Версия 3
© ISO 2025
Утвержденный рабочий проект
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.
Текущее издание: ISO 17470:2014

Тезис

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки
    Этап
    : Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
  • Версия
     : 3
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 2
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 2
  6. ISO/AWI 17470