ISO 19606:2017
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ISO 19606:2017
65457
Indisponible en français
État actuel : Publiée (Sera révisée)
Cette norme sera remplacée parISO/DIS 19606
fr
Format Langue
std 1 124 PDF
std 2 124 Papier
  • CHF124
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Résumé

ISO 19606:2017 describes a method to evaluate the adequateness of a probe tip for fine-ceramic thin-film surface roughness measurements by atomic force microscopy, of surfaces with an arithmetical mean roughness, Ra, in the range of about 1 nm to 30 nm and a mean width of roughness profile elements, RSm, in the range of about 0,04 μm to 2,5 μm.

Informations générales

  •  : Publiée
     : 2017-02
    : Norme internationale à réviser [90.92]
  •  : 1
  • ISO/TC 206
    81.060.30 
  • RSS mises à jour

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