Reference number
ISO 20341:2003
© ISO 2024
International Standard
ISO 20341:2003
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
Edition 1
2003-07
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2003)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2019. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 20341:2003

Язык
Формат
CHF 42
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 20341:2003 specifies procedures for estimating three depth resolution parameters, viz the leading-edge decay length, the trailing-edge decay length and the Gaussian broadening, in SIMS depth profiling using multiple delta-layer reference materials.

It is not applicable to delta-layers where the chemical and physical state of the near-surface region, modified by the incident primary ions, is not in the steady state.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2003-07
    Этап
    : Систематический пересмотр международного стандарта [90.20]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 201/SC 6
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 20341:2003