ISO/TR 15969:2001
w
ISO/TR 15969:2001
28872

Текущий статус : Отозвано

Это стандарт пересмотренISO/TR 15969:2021

Тезис

This Technical Report gives guidelines for measuring the sputtered depth in sputtered depth profiling. The methods

of sputtered depth measurement described in this Technical Report are applicable to techniques of surface

chemical analysis when used in combination with ion bombardment for the removal of a part of a solid sample to a

typical sputtered depth of up to severalmicrometres.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2001-06
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 4
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)