Indisponible en français

État actuel : Publiée (En cours d'examen)

Le dernier examen de cette norme date de 2020. Cette édition reste donc d’actualité.
Format Langue
PDF
Papier
  • CHF129
Convertir les francs suisses (CHF) dans une autre devise

Résumé

ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.

Standard first page

Prévisualiser 

Prévisualiser cette norme sur notre Plateforme de consultation en ligne (OBP)

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2015-07
    Stade
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  • Edition
     : 1
  • Comité technique :
    ISO/TC 172/SC 9
    ICS :
    31.020 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Objectifs de développement durable

Cette norme contribue à l'Objectif de développement durable suivant

9
Industrie, innovation et infrastructure

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Store
  3. Catalogue de normes
  4. TC
  5. ISO/TC 172/SC 9
  6. ISO 17901-2:2015