Reference number
ISO 17901-2:2015
ISO 17901-2:2015
© ISO 2024
International Standard
ISO 17901-2:2015
Optics and photonics — Holography — Part 2: Methods for measurement of hologram recording characteristics
Edition 1
2015-07
2015-07
ISO 17901-2:2015
60947
Publiée
(Edition 1, 2015)
Cette publication a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2020.
Cette édition reste donc d’actualité.
ISO 17901-2:2015
ISO 17901-2:2015
60947
CHF
129
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Résumé
ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2015-07Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 172/SC 9ICS :31.020
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