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Résumé

L'ISO 2128:2010 spécifie une méthode non destructive pour déterminer l'épaisseur des couches anodiques sur l'aluminium et ses alliages en utilisant un microscope à coupe optique.

Cette méthode est applicable, dans la plupart des cas industriels, aux couches anodiques d'épaisseur supérieure à 10 µm, ou supérieure à 5 µm lorsque la surface est lisse.

L'utilisation de la méthode spécifiée est limitée par la nécessité que les deux lignes lumineuses décrites dans le principe soient visibles et nettement séparées, c'est-à-dire qu'elle n'est pas applicable aux couches opaques ou de couleurs sombres.

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Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2010-09
    Stade
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  • Edition
     : 2
    Nombre de pages
     : 3
  • Comité technique :
    ISO/TC 79/SC 2
    ICS :
    25.220.20 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Objectifs de développement durable

Cette norme contribue aux Objectifs de développement durable suivants

12
Consommation et production responsables
9
Industrie, innovation et infrastructure

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