État actuel : Annulée

Cette norme a été révisée par ISO 17470:2014

Résumé

L'ISO 17470:2004 donne des recommandations pour l'identification des éléments et la recherche d'éléments particuliers présents dans un volume micrométrique spécifique d'un échantillon, par l'analyse des spectres de rayons X obtenus en utilisant des spectromètres à dispersion de longueur d'onde montés sur une microsonde de Castaing ou sur un microscope électronique à balayage.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 2004-09
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 11
  • Comité technique :
    ISO/TC 202/SC 2
    ICS :
    71.040.99 
  • RSS mises à jour

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