ISO 17901-2:2015

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Publicado (Edición 1, 2015)

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ISO 17901-2:2015

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Resumen

ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.

Informaciones generales

Estado
: Publicado

Fecha de publicación
: 2015-07

Etapa
: Norma Internacional confirmada [90.93]
Edición
: 1

Número de páginas
: 20
Comité Técnico :
ISO/TC 172/SC 9

ICS :
31.020
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