Resumen
ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.
Informaciones generales
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Estado: RetiradaFecha de publicación: 2009-09Etapa: Retirada de la Norma Internacional [95.99]
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Edición: 1Número de páginas: 43
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Comité Técnico :ISO/TC 202ICS :71.040.50
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PublicadoISO 24173:2024
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