Проект комитета
ISO/CD 23131-3
Ellipsometry — Part 3: Transparent single layer model
Ссылочный номер
ISO/CD 23131-3
Версия 1
Проект комитета
ISO/CD 23131-3
83903
Проект данного международного стандарта рассматривается комитетом.

Тезис

This document uses ellipsometric measurements and their analysis to specify the method for the determination of the layer thickness d of a transparent layer and the optical (refractive index n) or dielectric (real part ε1) constants/functions based on the transparent single layer model within a spectral region, for which k = 0 applies.

Общая информация

  •  : В стадии разработки
    : закрытие возможности комментирования [30.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 107
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ