ISO 25498:2018

Тезис

ISO 25498:2018 specifies the method of selected area electron diffraction (SAED) analysis using a transmission electron microscope (TEM) to analyse thin crystalline specimens. This document applies to test areas of micrometres and sub-micrometres in size. The minimum diameter of the selected area in a specimen which can be analysed by this method is restricted by the spherical aberration coefficient of the objective lens of the microscope and approaches several hundred nanometres for a modern TEM.

When the size of an analysed specimen area is smaller than that restriction, this document can also be used for the analysis procedure. But, because of the effect of spherical aberration, some of the diffraction information in the pattern can be generated from outside of the area defined by the selected area aperture. In such cases, the use of microdiffraction (nano-beam diffraction) or convergent beam electron diffraction, where available, might be preferred.

ISO 25498:2018 is applicable to the acquisition of SAED patterns from crystalline specimens, indexing the patterns and calibration of the diffraction constant.

Общая информация

Текущий статус
: Published

Дата публикации
: 2018-03
Версия
: 2
Технический комитет
: ISO/TC 202/SC 3 Analytical electron microscopy
ICS
:
71.040.50 Physicochemical methods of analysis

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития:

Индустриализация, инновации и инфраструктура

Приобрести данный стандарт

	Формат	Язык
std 1 166	PDF + ePub
std 2 166	Бумажный

CHF166

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами

+41 22 749 08 88

customerservice@iso.org

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

недоступно на русском языке