ISO 19668:2017
p
ISO 19668:2017
65947
недоступно на русском языке

Текущий статус : Опубликовано (Hа стадии пересмотра)

ru
Формат Язык
std 1 129 PDF
std 2 129 Бумажный
  • CHF129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2017-08
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 7
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)