недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2009-09
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 202 Microbeam analysis
  • ICS
     :
    71.040.50 Physicochemical methods of analysis

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
PDF на CD
  • CHF166

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202
  6. ISO 24173:2009