Тезис
ISO 17526:2003 covers terms and definitions as well as test methods and evaluation procedures to characterize, estimate and predict the longterm behaviour of various types of lasers.
It defines terms for the lifetime of lasers and specifies test procedures and fundamental aspects for the determination of lifetime. It applies for all types of lasers for which lifetime is a critical issue, including diode lasers except those used in telecommunications.
Общая информация
-
Текущий статус: ОпубликованоДата публикации: 2003-06Этап: Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 172/SC 9ICS :31.260
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Сейчас
ОпубликованоISO 17526:2003
Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.93 (Подтверждено)-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00