Résumé
La présente Norme Internationale spécifie une méthode de mesurage de l'épaisseur des revêtements minces à haut pouvoir réfléchissant (jusqu'à 2 µm), basée sur le principe de Fizeau d'interférométrie à faisceaux multiples. La méthode décrite ne peut pas être appliquée aux revêtements en émail vitrifié.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 1976-11Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 1Nombre de pages: 4
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Comité technique :ISO/TC 107
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