ISO 17470:2014
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ISO 17470:2014
64783
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Résumé

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ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.


Informations générales 

  •  :  Publiée
     : 2014-01
  •  : 2
  •  : ISO/TC 202/SC 2 Microanalyse par sonde à électrons
  •  :
    71.040.99 Autres normes relatives à la chimie analytique

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