ISO 17901-1:2015

Indisponible en français

Publiée (Edition 1, 2015)

Cette publication a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2020. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 17901-1:2015

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Résumé

ISO 17901-1:2015 specifies the terms related to optical characteristics of holograms, the method to measure their diffraction efficiency, and the angular and wavelength selectivity measurement methods. These measurement methods are applicable to any type of hologram if the hologram yields a simple diffraction pattern, which means the reconstructed wave can be clearly separated from other diffracted and non-diffracted waves. In other words, holograms that yield complex diffraction patterns are excluded. There are no restrictions on the materials used to form the holograms.

Informations générales

État actuel
: Publiée

Date de publication
: 2015-07

Stade
: Norme internationale en cours d'examen systématique [90.20]
Edition
: 1
Comité technique :
ISO/TC 172/SC 9

ICS :
31.020
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