Numéro de référence
ISO 6342:1993
ISO 6342:1993
Micrographie — Cartes à fenêtre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur
Edition 1
1993-08
Annulée
ISO 6342:1993
12641
Annulée (Edition 1, 1993)

Résumé

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Informations générales

  •  : Annulée
     : 1993-08
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  •  : 1
     : 3
  • ISO/TC 171/SC 2
    37.080 
  • RSS mises à jour

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